EMV-200 近場磁界量測系統

主要功能

X，Y，Z，θ 4軸方向量測
可以依據PCB板上之零件高度上下移動近距離的得到量測數據
最大量測範圍: 30cm * 30cm *23cm (長,寬,高)
全電腦控制與圖形化顯示
測試資料形成公司資料庫
符合IEC 61967-3 法規要求

一般EMI量測運用

EMV-200可以針對PCB上做一個近場接觸式的量測，量測PCB上面的Noise分布，從全面積、全頻率掃瞄到小範圍、針對頻率的偵測，完全依據需求執行量測。再透由量測天線之旋轉得到不同方位之場強強度，故能精確的顯示PCB上電流方向，找到雜訊trace來源，對於EMI的問題發現，相當有效的設備。

手機Sensitivity分析用途

手機目前皆要求須達-105dBm的Sensitivity，由於訊號已相當微弱，系統的Platform Noise高低，已嚴重影響Sensitivity的能力，故分析系統(PCB上)的Platform Noise，進而降低Noise，以提升手機的Sensitivity，是此設備的一大利器。

積體電路的電磁相容性測試

電子設備和系統供應商努力改進其產品以滿足電磁相容規格，降低電磁發射和增強抗干擾能力。過去，積體電路供應商關心的只是成本，應用領域和性能，幾乎很少考慮電磁相容問題。即使單顆積體電路通常不會產生較大的輻射，但它還是經常成為電子系統輻射發射的根源。當大量的數位訊號瞬間同時切換時便會產生許多高頻分量。

尤其是近年來，積體電路頻率越來越高，整合的電晶體數目越來越多，積體電路的電源電壓越來越低，晶片特徵尺寸進一步減小，但越來越多功能，甚至是一個完整的系統都能被整合在單一晶片中，這些發展都使晶片級電磁相容更加突出。現在，積體電路供應商也必須考慮自己產品電磁相容方面的問題。

4D表示	2D表示(磁界方向付)